非破壞檢測人員技朮資格等級考試-RT高級專業科目

問答題
1.選購X光機時，應考慮哪些條件？答：應考慮以下條件：ヾ首先要選擇穿透能力能滿足工作厚度的要求﹔ゝ能量相同時，盡量選小焦點的﹔ゞ要考慮工作量的大小，連續生產還是斷續生產﹔々要考慮工件的材質和形狀，即是有色金屬還是重金屬，軸類、板材還是筒類等去選擇相應的X射線探傷機種。
2.X射線機的常見故障有哪些？答：常見故障有：ヾX 射線管松動﹔ゝ保險絲溶斷﹔ゞ電流表沒指示或指示數很小﹔々電纜斷線﹔ぁ自耦變壓器老化、高壓指數達不到額定值﹔あ發生器保護罩漏油，高壓跳火﹔ぃX射線管失效﹔い陽極過熱，毫安表針擺動較嚴重﹔ぅ馬達不轉，發生器局部發熱﹔うX射線管燈絲預熱時間不夠，而使燈絲老化損壞。
3.絕緣油絕緣強度低劣時有何現象？答：絕緣油絕緣強度低時，送高壓后，電流值不規則的波動，一般不至達到跳閘程度。
4.什么是絕緣油的絕緣強度？答：油樣在油杯內2.5mm間隙時的擊穿電壓的多次平均值，就是該油的絕緣強度。
5.X射線機要求什么樣的絕緣油，有哪些具體要求？答：X射線機多用45#變壓器油、絕緣強度要在50kv以上，還要求有燃點高、凝固點低、揮發性低、粘度適中等。
6.經常熔斷電源保險絲的故障原因可能有哪些?答:X射線管真空度不良,絕緣油里有氣泡或絕緣強度降低,高壓電路元件損壞,造成對地放電或短路,調壓器等低壓電路元件絕緣降低,造成對地短路,電源接錯等
7.高壓可接通,但無管電流的故障原因可能有哪些?答:X射線管或高壓整流管燈絲斷或接觸不良,高壓變壓器斷線或接觸不良,高壓電纜與插座接觸不良,毫安表損壞無指示,毫安調節器斷路等
8.試述底片影象顆粒度及影響因素答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時在感覺上產生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由于影像不均勻引起的透射光強變化，其測定結果稱為顆粒度。由于顆粒大小的分布是隨機的，所以顆粒度一般是采用均方根離差σ來度量。目前較通用的方法是用直徑24μm的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重迭生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念，影像顆粒大小取決于以下因素：ヾ膠片鹵化銀粒度﹔ゝ曝光光子能量﹔ゞ顯影條件。
9.試推導射線照相主因對比度（物件對比度）的表達式 答：已知寬束射線透過厚度為T的試件,其透過射線強度Ip=(1+n)Ioe-μT --(1),當試件中某一局部區域厚度有變化,射線穿過的厚度差為△T,該區域透過射線的強度也會發生變化,其強度增量為△I,則有：
△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1) --(2),(2)÷(1)得：
△I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]= (eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展為級數
eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2！……+(μ△T)n/n！…… --(4),近似取級數前兩項代入(3),得：
△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n) --(5)
10.寫出透照厚度差為△T的平板底片對比度公式和象質計金屬絲底片對比度公式，說明公式中各符號的含義，并指出兩個公式的差異 答：厚度差為△T的平板底片對比度公式：△D= -0.434μpγ△T/(1+n) --(1)
象質計金屬絲底片對比度公式：△D= -0.434μpγσ·d/(1+n) --(2),式中：μp--考慮膠片速度系數的射線吸收系數﹔γ--膠片反差系數﹔σ--几何修正系數﹔△T--平板透照厚度差﹔d--象質計金屬絲直徑﹔n--散射比。
兩個公式的差別在于几何修正系數σ，由于透度計金屬絲直徑d遠小于焦點尺寸，在一定透照几何條件下，焦點尺寸會影響金屬絲影像對比度，所以公式(2)引入σ對底片對比度進行修正。當缺陷尺寸大于焦點尺寸時，焦點尺寸對底片對比度的影響可忽略不計，所以公式(1)中，沒有几何修正系數σ
11.什么是几何修正系數，寫出其計算式并說明其實用意義
rt-401a.gif (5951 字節) 答：几何修正系數σ是考慮射源焦點尺寸在一定的透照几何條件下,會對小缺陷影像對比度產生影響而提出的,其公式是按透度計金屬絲的情況推導的。
對金屬絲透度計按左圖中表示的情況進行透照,到達膠片上P點的射線將通過金屬絲截面的abcd部分,近似認為射線通過的是a1b1c1d1部分,并認為在焦點尺寸f范圍內射線強度無變化。
設金屬絲直徑為d,金屬絲截面圓為O,在距圓心x的一點上,射線穿過金屬絲b2d2兩點，設其穿透厚度為d",則有
d"=(d2-4x2)1/2
連接膠片上P點與焦點兩端,設兩直線與以O為原點的直線的橫軸分別交于x1和x2,則x1和x2之間的距離d'可用下式表示：d'=f·l/L,式中：l--金屬絲中心至膠片距離﹔L--焦點至膠片距離。
底片上P點所產生的黑度差△D是由于焦點上各點發出的射線穿過a1b1c1d1金屬絲截面,強度減小而產生的,而焦點上各點發出的射線穿過金屬絲的厚度不一樣,所以穿透厚度d"是一個變量,設dm為d"的平均值,則有：
rt-401a-1.gif (1692 字節)
當d'＜d時,積分上下限為X1= -d'/2，X2= d'/2代入,得：d"m＝{[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}·(d/2)
當d'≧d時,積分上下限為X1= -d/2，X2= d/2代入,得：d"m=(πd/4)(d'/d)-1,修正系數σ= d"m/d，所以有：
d'＜d：σ=(1/2){[1-(d'/d)2]1/2 +(d'/d)-1sin-1(d'/d)}     d'≧d：σ=(π/4)(d'/d)-1
σ值隨d'/d變化情況見圖b,由圖可見：當d'/d接近1時,σ值會急劇下降,也意味著小缺陷的對比度會隨之減小,在實際透照中,為保証小缺陷的對比度,應考慮采用d'/d≦0.5,σ≒1的几何布置,此時焦距L的計算公式推導如下：
已知：d'/d≦0.5,則d'≦0.5d,又d'=f·l/L,∴f·l/L≦0.5d,則L≧2fl/d,式中：L-焦距﹔f-焦點尺寸﹔l-透度計至膠片距離﹔d-要求能夠識別的金屬絲直徑
12.固有不清晰度大小與哪些因素有關？答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響：
(1)射線的質。透照射線的光子能量越高，激發的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。
(2)增感屏。據文獻報道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片﹔增感屏厚度增加也會引起固有不清晰度增大﹔在γ射線和高能量Χ射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。
(3)屏與膠片貼緊程度。透照時，如暗盒內增感屏和膠片貼合不緊，會使固有不清晰度增大。為改善屏與膠片貼合情況，提出使用一種真空暗盒。
固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關，與暗室處理條件無關。
13.實際照相中，底片上各點的Ug值是否變化？有何規律？答：實際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡化計算，便于應用，有關技朮標准僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標。對不同部位Ug值的變化忽略不計。底片上不同部位的Ug值變化規律如下：
(1)焦點尺寸變化引起Ug值變化，由于Χ射線管的結構原因，沿射線管軸向不同位置焦點投影尺寸是變化的。陽極側焦點小，陰極側焦點大。因此底片上偏向陽極一側的部位Ug值小，偏向陰極一側的部位Ug值大。
(2)L2/L1變化引起Ug值變化，透照縱縫時，被檢區域各點的L2/L1值是定值，Ug值不發生變化。但在透照環縫時，各點的L2/L1值是變化的，因此Ug值也發生變化。例如，環縫外透法和F≠R的環縫內透法，端部的L2/L1值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也會增大。
14.試述Ug與Ui的關系以及對照相質量的影響 答：可簡要歸納為以下几點：
(1)射線照相中，通常主要考慮的是几何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛應用的，表達U，Ug，Ui的關系式是：U2=Ug2+Ui2
(2)由于U是Ug和Ui的綜合結果，所以在Ug值已小于Ui值的情況下，再進一步減小Ug值，以期望減小U，其效果是不顯著的，從而是沒有意義的。
(3)在Χ射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug。
(4)在60Co，137Cs及192Irγ射線照相中，Ui值較大，對照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過Ui值。
15.透照有焊冠的焊縫應注意哪些事項？答：（1）由于焊縫焊冠的存在，底片上焊縫部位黑度D1總是小于母材部位黑度D2，照相時應注意保証D1、D2均在標准允許的黑度范圍內。（2）由于底片對比度△D隨黑度D的增加而增大，而識別界限對比度△Dmin也隨黑度D的增加而增大，因此透照有焊冠焊縫時，通過控制適當的焊縫部位黑度D1和母材部位黑度D2，可使母材部位和焊縫部位能識別的透度計線徑相等，此黑度稱為有焊冠焊縫透照的最佳黑度。（3）底片對比度隨射線有效能量的降低而增大，但另一方面，射線有效能量的降低會使焊縫部位的透射線I1與母材部位的透射線I2的比值大大減小，從而使母材部位的散射線對焊縫部位的影響更嚴重，其結果是降低了對比度，因此，透照有焊冠焊縫時，焊縫部位的對比度不是單純地隨射線能量的降低而增大，而是在某一線質時，焊縫部位的底片對比度達到最大值。此線質稱為有焊冠焊縫透照的最佳線質。
16.指出小口徑管對接焊縫射線照相缺陷檢出的不利因素，并提出改進措施。答：小口徑管焊縫射線照相采用雙壁雙影法透照，對缺陷檢出的不利因素和改進措施有以下几點：(1)雙壁雙影法透照時，由于射源側焊縫比膠片側焊縫離開膠片的距離相差一個管子直徑，故射線源尺寸的几何影響較大，使几何模糊度增加，小缺陷對比度降低，為減小射源尺寸對几何模糊度和對比度的影響，可選擇焦點尺寸小的射線源，適當增大焦距。(2)透照小口徑管時射線的穿透厚度自中心向兩端變化很大，易導致底片上中心部位黑度過大，邊緣部位黑度過小，為減少被檢區域不同部位的黑度差，宜適當提高射線能量，采用“高電壓，短時間”的透照工藝。(3)由于管子直徑較小，散射線引起“邊蝕”效應比較嚴重。相應的措施是在射線機窗口處加濾板，或采用鉛罩屏蔽焊縫以外部分，以減少“邊蝕”。(4)雙壁雙影透照時，焊縫被傾斜投影到膠片上，缺陷影像會發生畸變。為減少畸變，應控制透照角度和橢圓開口間距，間距一般為3∼10mm，最大不超過15mm。
17.試述編寫射線檢測程序書所應包含的內容？答：(1)工藝適用范圍(試件種類、焊接方法和類型、厚度等)。(2)工藝編制依據(有關規程、規范、標准、設計規定等)。(3)對探傷人員要求(資格、工作經歷、學歷、視力等)。(4)設備器材選擇(射線機、膠片、增感屏、透度計、暗盒、鉛字等)。(5)對工件要求(工序、探傷時機、工件表面狀況)。(6)探傷技朮要求（質量等級、比例、部位、合格級別)。(7)透照方法(源-膠片相對位置、焦距、划線長度、編號方法、透度計、鉛字擺放、散射線屏蔽等)。(8)曝光參數(管電壓、管電流、曝光時間等)。(9)暗室處理(配方、程序、條件、要求等)。(10)底片評定(像質鑒定、級別評定、返修規定等)。(11)記錄報告(種類、內容、簽証、存檔及發送規定等)。(12)安全管理規定。
18.散亂射線是怎樣產生的？它對底片有何影響？透照時如何遮擋？答：散亂射線是由射線與物質作用而產生的，如果來自工件內部，處于膠片前方，稱為前方散射線，射線透過工件和膠片后打到地板、牆壁上等，均會產生散亂射線，由于它來自膠片背面，故稱背面散亂射線（包括側壁散亂射線）﹔散亂射線使底片產生附加黑度，嚴重時全部變黑，影響底片的對比度和清晰度，降低底片的靈敏度﹔遮擋的方法有：采用限光器（准直器）或采用鉛板在射線源側遮擋膠片附近不需透照的部位，從而減少散亂射線對底片的影響﹔采用金屬增感屏，前屏吸收一部分前方散亂射線，后屏減少背面散亂射線的影響﹔透照較厚工件時，暗盒后面用薄鉛板（鉛墊板）遮擋背面散亂射線﹔被透照工件周圍盡可能保障有一定的空間，避免存放與透照無關的雜物以避免側壁散亂射線影響。
19.射線源和膠片處于工件兩面，透照時的像質計應如何放置？為什么？答：應放置在射線源側工件的表面上，置于有效受檢部分的一端，鋼絲橫跨且垂直于焊縫，細絲向片子的端部﹔這樣放置時的几何模糊度最大、靈敏度最低，若此靈敏度符合規范標准的要求，則其它部位也能符合要求。
20.在一些壓力容器安全監察規程中規定對于厚度較大的焊縫，在進行射線照像后，還要求進行超音波檢測復驗，這是為什么？答：各種非破壞檢測方法都有其局限性，射線照像隨著板厚的增加，發現小缺陷的能力就越來越差，特別是對于線狀缺陷，例如輕微的未焊透（熔入不足）及小裂紋等難以發現，而超音波檢測對于線狀缺陷是敏感的，為提高檢測可靠性，保証產品質量，特別是質量要求高的產品，超音波檢測可以彌補射線照像檢測的不足。
21.簡述判片的一般程序步驟。[提示]應按相應的規范標准要求進行，通常主要包括：檢查底片上的各標記符號是否齊全及擺放位置是否合乎要求﹔測定判片區域的黑度與靈敏度要符合標准要求﹔評定缺陷的位置、性質、大小、分布狀況，按評級標准評出底片級別并作記錄﹔發出報告。
22.曝光條件主要包括哪些內容？答：對一定機器產生的X射線而言，曝光條件包括管電壓、管電流、曝光時間和焦距﹔對射源一定的伽瑪射線而言，曝光條件包括曝光時間和焦距。
23.對于水循環冷卻油絕緣的X射線機，當高壓切斷后（已經沒有X射線產生），是否能馬上關閉機器的油泵？為什么？
答：不能馬上關閉油泵，因為X射線產生的過程中有大量電子轟擊陽極鎢靶而產生很高的熱量，所以必須將冷卻油泵繼續運轉10-15分鐘，使X射線管的陽極充分冷卻后才能關閉總電源、關閉水源。
24.右圖所示線路屬于何種高壓回路？多用于哪些射線機上？
答：這是半波自整流線路，多用于便攜式X射線機上

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25.射線膠片分類的主要依據是什么？簡述其分類。答：膠片分類首先是依據銀鹽顆粒度的大小，因為粒度是影響小缺陷可見性的最重要的因素。膠片種類分為超微粒、微粒、中速、快速，按CNS11049射線檢測法通則將工業用X光膠片分為三類：第一類：速率慢、對比度極高、極微粒﹔第二類：速率中、對比度極高、微粒﹔第三類：速率快、對比度中、粗粒
26.選擇透照方式時必須確定的事項、几何參數和必須考慮的相關因素是什么？答：選擇透照方式時必須確定的事項是：射線源和膠片的位置、射線束照射的方向、透度計和標記的放置、散射線的屏蔽和監測等﹔必須確定的几何參數是：焦距、一次透照長度、環焊縫100%透照時最少曝光數﹔必須考慮的相關因素是：几何模糊度、透照厚度比、橫裂檢出角、縱裂檢出角、有效評定長度以及100%透照時相鄰兩片的搭接長度。
27.目前工業射線檢測中已經應用的伽馬射源有哪些？它們各自的半衰期及可檢鋼厚度范圍是多少？答：60Co( 5.3年，60-150 mm)﹔192Ir( 74.4天，20-90 mm)﹔75Se( 118天，5-40mm)﹔169Yb( 31天，2-12mm)﹔170Tm( 129天，≦5mm)﹔153Gd( 242天，≦5mm)
28.射線探傷的組織管理工作主要包括哪几個方面？[提示]ヾ配備足夠完成本單位探傷任務的人員，這些人員需經考試合格并取得資格証書﹔ゝ配備足夠完成本單位探傷任務的設備及器材，加強設備維護，保証設備完好﹔ゞ制定必要的各項規章制度，如：檢測程序書、設備維護、人員培訓、檢測報告、審核及存檔制度等﹔々儲備足夠數量的探傷用消耗器材（膠片、增感屏、藥品等），并認真驗收保管好﹔ぁ監督本單位全體人員各負其責，把好質量關。
29.最新的第二代75Seγ射線源有些什么特點？答：是在反應堆中激活的具有熱穩定性的金屬硒化物，焦點呈准球形，和其他射源相比，在相同活度下其焦點尺寸更小，更適用于小焦距曝光、管道爬行器和接觸式射線照相，影像几何不清晰度小，是γ射線透照中等厚度（5-40mm鋼），獲取較高影像質量的一種新型同位素射源，較銥192和釔169源的半衰期長( 118天)，與銥192相比，其發射能譜較軟，γ射線照射率常數較小，設定輻射防護禁區較小，對操作者安全等
30.評片時對底片的質量一般有哪些要求？答：底片上應無偽像、划傷、跡痕和其他可能引起評片結論出現差錯的影像﹔底片上應有識別工件的編號、拍片部位編號、定位記號等標志并與工件相對應﹔底片上應有透度計的影像，透度計規格適當，底片靈敏度符合標准要求﹔底片黑度應在規定范圍內，反差適當。
31.畫出曝光曲線的示意圖，說明制作條件并簡述其用途。
答：曝光曲線是給定X射線機在選定工藝條件下（包括膠片類型、增感方式、顯影條件、焦距、底片黑度等）制作的，只有在給定的X射線機和相同的工藝條件下才能使用該曝光曲線。有了實際射線探傷工藝條件下的曝光曲線，在射線探傷時，對于不同厚度的工件就可以根據曝光曲線上的穿透厚度直接求得相應的管電壓、管電流和曝光時間，這是非常經濟、省時和方便的。

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32.以玻殼X射線管為例說明其結構各部分名稱及主要作用。答：玻殼X射線管的內部構造主要包括七個部分，即：鉛玻璃罩-保持X射線管內的真空度，吸收軟射線﹔陽極罩-吸收二次電子和軟射線﹔陽極體-支撐陽極靶和散熱﹔陰極頭-聚焦電子﹔燈絲-產生熱電子﹔陽極靶-發射X射線﹔鈹窗-吸收軟射線
33.X射線管的種類中，有一種旋轉式陽極，它是怎樣的？答：它的陽極是裝在一個小的感應電動機軸上，在X射線照射時旋轉，這樣陽極時刻以“新的靶面”接受電子束的轟擊，因此電子束的能量不至于像固定式陽極那樣集中于一點，它可把熱量散布在陽極的相當大的面積上。由于陽極轉動的非常平穩，焦點可以保持形狀和位置的穩定。用旋轉陽極制成的X射線管不但可以得到很小的焦點，而且可以制成較大的功率，其陽極為一直徑約76毫米具有斜邊緣的鎢盤構成，旋轉速度可達到每分鐘數千轉。
34.什么是X射線管的有效焦點？其焦點形狀和尺寸于哪些因素有關？答：在X射線管中，電子束轟擊陽極靶上的實際面積為X射線管的實際焦點，實際焦點在所激發的射線束中心方向（即垂直于X射線管軸線方向）的投影面積稱為X射線管的有效焦點，有效焦點的平面可認為在X射線管的軸線上，它是直接影響X射線檢驗質量的因素，因此X射線機說明書或檢測規程上所說的焦點（或稱作射源尺寸）都是指有效焦點。X射線管焦點的形狀和尺寸，決定于燈絲的形狀、尺寸、安裝位置以及陽極靶面的傾斜角度。
35.什么是X射線管的容量？答：X射線管允許的最大負荷量就稱為X射線管的容量，它等于X射線管在使用時額定最高管電壓和額定管電流的乘積（計算管電壓時取有效值：U有效=0.707U峰值），即容量P=U有效(千伏)I(毫安)/1000 (千瓦)，該容量是指在使用中按規定的冷卻方式工作，并且連續工作時間不能超過規定的連續工作時間的情況下。
36.影響X射線管容量的因素有哪些？答：X射線管的負荷容量直接決定于X射線管實際焦點處的工作溫度，影響焦點處溫度的因素有：實際焦點大小﹔使用管電壓的高低﹔管電流的大小﹔X射線管的連續使用時間﹔在實際焦點上電子束截面的電子密度分布情況﹔陽極的構造及冷卻方式。
37.X射線管為什么要經過訓練（老練硬化）處理？答：X射線管的質量優劣及使用壽命都與管內的真空度密切相關，盡管制造時已經達到要求的真空度（一般可達10-7mmHg）,但是管內的結構材料在第一次使用或者長期擱置，或者受到電子轟擊或受熱時，都有可能從這些物體中逸出氣體（“放氣”）而降低真空度，導致X射線管不能穩定工作甚至損壞。X射線管的訓練實質上是通過從低端開始逐步升高管電壓和管電流，使管內的氣體分子電離并因被電離出來的質量較大的正離子高速沖向陰極，使得陰極金屬發生濺散，這些濺散的金屬此時會吸收管內的氣體，即“排氣”，從而提高管內真空度，保障X射線管穩定工作。因此對于新的或停止工作較長時間的X射線管在正式使用前都必須進行訓練處理。
38.為什么在射線檢測規范標准中對底片黑度的要求有越來越高的趨勢，而且采用的觀片燈的亮度液越來越大？答：隨著底片黑度的提高，其對比度也相應增加，這一關系直到黑度值為3-3.5左右，底片對比度提高后。透照靈敏度也增加了，因此有傾向于要求較高的底片黑度，而為了能夠觀察高黑度的底片，要求觀片燈的亮度也要隨之相應加大了。
39.在評片前首先要檢查底片是否合格，其合格要求有哪几項？答：底片黑度合格、像質指數或像質計靈敏度合格、影像識別要求合格，即定位及識別標記齊全﹔沒有妨礙底片評定的偽像，包括底片的損傷、污跡等。
40.射線檢測的“三個基本要素”是什么？答：射線源、受檢物和記錄或顯示介質。
41.X射線硬度對靈敏度有什么影響？答：X射線的硬度決定于波長，波長越短，硬度越高。X射線檢驗的靈敏度主要取決于底片的對比度和清晰度，對比度越高，越容易發現缺陷，然而當其他條件固定時，缺陷在底片上的對比度完全取決于主因對比度：IA/IC=eμx（式中IA-透過缺陷處的射線強度﹔IC-透過缺陷附近材料的射線強度﹔e-自然對數的底，常數﹔μ-吸收系數﹔x-缺陷深度）當缺陷深度一定時，提高主因對比度的唯一途徑是增大物質的吸收系數μ，由于μm=CZmλn（式中μm-質量吸收系數﹔C-常數﹔Z-物質的原子序數﹔λ-X射線波長，m和n一般取3），即質量吸收系數與被透物質原子序數的立方和入射X射線波長的立方成正比。當被透物質固定時，吸收系數僅決定于X射線波長。采用較低的管電壓時可以得到波長較長的X射線，從而提高了主因對比度，亦即提高了靈敏度，因此在可能的條件下盡量采用較低的管電壓，也就是較軟的X射線，對提高靈敏度是有益的。
42.焦距對射線檢驗的靈敏度有何影響？答：主要表現在四個方面：ヾ焦距的大小會引起缺陷投影的畸變，焦距越小，缺陷投影畸變越大，因此從減小缺陷畸變考慮，選用較大焦距為好﹔ゝ焦距的大小會引起零件沿射線方向厚度的變化，這是由于射線束成圓錐形擴散，引起零件邊緣沿射線方向厚度增加，導致零件在底片上的黑度不均勻，用K表示邊緣部位與中間部位沿射線方向的厚度比，即K值越大，零件中間部位與邊緣部位沿射線方向的厚度差值越大，使底片黑度越不均勻，對射線檢驗靈敏度影響越大，選用較大的焦距可有效地減小K值（一般要求K值越小越好，最好不超過1.1），對靈敏度有利﹔ゞ焦距大小隊几何模糊度的影響，几何模糊度Ug的存在使缺陷邊緣輪廓模糊，降低了底片的清晰度和缺陷對比度，因此焦距越大則Ug越小，檢驗靈敏度越高﹔々焦距大小對散射線的影響，焦距增大必然導致曝光量要增加，在管電流一定的情況下只能增加曝光時間，除了降低工作效率外，也會使得散射線作用時間增長而影響底片清晰度，降低了檢驗靈敏度。因此，從前三項而言，增大焦距對提高檢驗靈敏度有利，但從散射線影響的因素來說，提高焦距對靈敏度是不利的，故在確定焦距參數時應予以全面綜合考慮，選擇適宜的焦距。
43.什么是增感和增感系數？答：增感即是增加膠片的感光量，從而可以相對地縮短對膠片的曝光時間。增感系數用于說明增感屏的作用程度，也稱增感因素，它是在所有條件不變的情況下，使底片得到相同黑度時，不使用增感屏所需曝光時間t1與使用增感屏所需曝光時間t2之比：K=t1/t2,但是此增感系數K并不是一個固定不變的值，它隨使用的X射線波長和所取底片黑度的不同而變化的。
44.影響射線檢測透照靈敏度的諸因素有哪些？答：使用的X射線機性能﹔使用的X射線膠片性能質量與暗室處理條件﹔增感屏的選用﹔散射線的防護措施﹔零件的材料、尺寸和形狀，缺陷的性質、尺寸、形狀和方向﹔管電壓、管電流、曝光時間與焦距的選用。
45.常見的曝光曲線有哪些形式？答：常見的曝光曲線形式有：曝光量和管電壓隨材料厚度變化的曲線﹔管電壓對材料厚度變化的曝光曲線。
46.工業X射線電視的優缺點如何？答：優點：可以直觀地觀察物體動態或靜態情況下的內部結構與缺陷﹔使用經濟、簡便、效率高﹔可用于流水作業，便于實現X射線檢驗自動化。缺點：其檢測靈敏度一般較X射線照相法低﹔對形狀復雜的零件檢查有困難﹔初始投入較高。
47.工業CT的全稱是什么？答：工業用計算機控制層析X射線照相裝置
48.用黑度計測定的底片黑度是一個綜合的表觀值，它包含了什么因素在內？答：包含了工件對比度和膠片對比度
49.按CNS11049射線檢測法通則規定，在什么情況下需要在一張底片上放置兩塊像質計？答：如果物件厚度不均勻而使底片黑度不均勻，則應至少放置兩塊像質計，其中一塊置于檢測范圍最白處，另一塊置于檢測范圍最黑處
50.按CNS11049射線檢測法通則規定，在什么情況下允許使用雙片或多重底片照相技朮？答：對于厚薄相差很大的物件
51.按CNS11049射線檢測法通則規定，射線照像檢驗記錄應包含哪些項目？答：裝備、能量、強度、射源尺寸、射源至膠片距離、曝光時間、照相厚度、膠片型別、膠片尺寸、像質計種類與編號、墊片厚度（若使用時）、增感屏種類、照相日期、底片處理的溫度及顯影時間、底片位置圖、照射方式、底片編號、判片結果、判片標准、檢測人員姓名與資格
52.CNS11049射線檢測法通則對操作射線照相人員有什么要求？答：操作射線照相人員應取得行政院原子能委員會發給的有關合格執照，并應依有關法令、規章、標准操作，事業主營對所屬檢測人員的資格與檢測行為負責
53.CNS11049射線檢測法通則適用于什么射源，不適用于什么射源？答：適用于X射線與伽馬射線，不適用于中子射線
54.在單壁照相中，對于曲面物體，按CNS11049射線檢測法通則規定，射線束外緣穿過物體的路徑與射線束中心穿過物體的路徑之比應為多少？答：≦1.1
55.CNS11049射線檢測法通則對射源尺寸要求是如何規定的？答：射源尺寸越小越佳，320KV以下的X光機可用針孔投影法測量，320KV以上的X光機及伽馬射源則以原制造廠家出廠証明文件為依據
56.CNS11049射線檢測法通則關于伽馬射線照相物件厚度最小規定值有哪些內容？答：對于192Ir：鐵金屬材料19mm，銅及銅合金及高鎳合金16mm，鋁及鋁合金63mm﹔對于60Co：鐵金屬材料38mm，銅及銅合金及高鎳合金33mm
57.CNS11049射線檢測法通則關于工業用X光膠片的分類是如何規定的？答：共分成三類：第一類為感光速度慢、對比度極高、極微粒﹔第二類為感光速度中、對比度高、微粒﹔第三類為感光速度快、對比度中、粗粒
58.CNS11049射線檢測法通則關于膠片的選擇有什么規定？答：應依被檢物的組合情況、形態、使用的增感屏、影像的靈敏度及合約規范的要求來選擇適當的膠片
59.CNS11049射線檢測法通則關于膠片和底片的儲存有什么規定？答：未曝射的膠片儲存應考慮溫度、濕度、有效期限及遠離放射線﹔正式記錄的底片應歸檔儲存
60.CNS11049射線檢測法通則關于增感屏的分類是如何規定的？答：分為金屬增感屏、熒光增感屏和金屬熒光增感屏三類
61.按CNS11049射線檢測法通則規定，在什么情況下允許使用熒光增感屏？答：一般應避免使用熒光增感屏，只有在為了縮短照相時間，并且能保証底片品質符合影像品質要求的前提下可以使用
62.按CNS11049射線檢測法通則規定，在什么情況下不允許使用熒光增感屏？答：熒光增感屏不得用于伽馬射線及1000KV之上的X射線
63.CNS11049射線檢測法通則關于增感屏的質量要求是如何規定的？答：使用的增感屏表面應清潔，不得有傷痕及斑點
64.CNS11049射線檢測法通則關于像質計的應用種類是如何規定的？答：允許采用孔洞型或線條型像質計，像質計的材質應與被檢物材質相同或有相當的射線吸收系數
65.按CNS11049射線檢測法通則規定，如果無法將像質計置放在射源側的被檢物表面上時應如何處理？答：如果無法將像質計置放在射源側的被檢物表面上，或者因為雙壁照相單壁判讀而不適宜將像質計置放在射源側的被檢物表面上，在這種情況下可以將像質計放置在被檢物的底片側，但需要在像質計附近另加放一個“F”鉛字做識別
66.按CNS11049射線檢測法通則規定，如果因被檢物的大小和形狀限制而無法將像質計置放在射源側的被檢物表面上時應如何處理？答：應另置一相同材質與厚度的塊規于被檢物附近，而像質計放置在塊規的射源側
67.CNS11049射線檢測法通則關于雙壁照相雙壁判讀時的像質計放置是如何規定的？答：雙壁照相雙壁判讀只適用于管外徑89mm以下，像質計應放置于射源側
68.對于圓柱形、球形或圓錐形被照物采用射源置圓心或球心進行環焊縫周向全景曝光時，按CNS11049射線檢測法通則規定，像質計應如何放置？答：對于一條環焊縫的周向全景曝光至少應共有三個等間距像質計
69.CNS11049射線檢測法通則關于底片影像品質的合格黑度范圍是如何規定的？答：1.5-4.0
70.CNS11049射線檢測法通則關于線條型像質計靈敏度要求是如何規定的？答：2%以下
71.CNS11049射線檢測法通則關于最大几何模糊度要求是如何規定的？答：物件厚度50mm以下為0.510mm﹔物件厚度超過50mm至75mm為0.760mm﹔物件厚度超過75mm至100mm為1.020mm﹔物件厚度超過100mm為1.780mm
72.在板厚為70mm的焊縫底片上發現有一個長度為21mm的條狀夾渣，按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法，該焊縫的質量應評為几級？說明該級別評定的依據。答：按9.1條文規定，該缺陷屬于第二類，按9.2.2(1)規定的長度系數為1，按10.2.2表12規定，因為焊縫厚度超過49mm，允許長度在24mm以下，因此該焊縫屬于三級
73.CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法關于檢驗時機選擇有什么規定？答：依合約規定或視實際需要實施
74.按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法要求，射線檢驗程序至少應詳述哪些項目？答：物件的材質與厚度范圍﹔使用的同位素種類或X射線的最大電壓值﹔射源到膠片的最小距離﹔最大射源尺寸﹔膠片的廠牌與型號﹔使用的增感屏
75.CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法關于瑕疵分類有什么規定？答：分為三類：第一類為圓形瑕疵，指長度未滿寬度三倍者，為圓形或不規則形狀的氣孔、或類似圓形的瑕疵﹔第二類為線形瑕疵，指長度為寬度三倍或以上者，為長形夾渣、熔合不良、熔入不足及類似線形的瑕疵﹔第三類為裂縫，包含任何形式及方向或類似裂縫的瑕疵
76.CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法關于第一類瑕疵評定區域大小有什么規定？答：第一類瑕疵在檢驗區中以瑕疵最嚴重處為判定區，其范圍以母材厚度為准：母材厚度25mm以下的判定區范圍是10x10mm﹔母材厚度超過25mm至100mm的判定區范圍是10x20mm﹔母材厚度超過100mm的判定區范圍是10x30mm
77.在CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法中，可視為無關顯示的第一類瑕疵有什么規定？答：母材厚度25mm以下時，長度小于等于0.5mm的第一類瑕疵視為無關顯示﹔母材厚度超過25mm至50mm時，長度小于等于0.7mm的第一類瑕疵視為無關顯示﹔母材厚度超過50mm時，長度小于等于母材厚度1.4%的第一類瑕疵視為無關顯示（焊道兩邊母材厚度不同時，取較小值）
78.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發現如右圖顯示的圓形瑕疵分布，按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法，該焊縫應判定為几級？
答：2級

79.某鋼板厚度30mm的對接焊縫射線照相，在射線底片上發現如右圖顯示的圓形瑕疵和線形瑕疵，按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法，該焊縫應判定為几級？
答：按圓形瑕疵判定應為2級，按線形瑕疵判定應為4級，取較差的級別，即綜合判定應為4級

80.按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法，對于存在裂縫瑕疵的焊縫評定級別是如何規定的？答：只要存在裂縫，包含任何形式及方向或類似裂縫的瑕疵，屬于第三種瑕疵，存在第三種瑕疵的焊縫等級均列為4級
81.按CNS11379鑄件射線檢驗法，鑄件射線照相時，對照射方向有什么要求？答：照射方向應盡可能與鑄件垂直或自鑄件厚度最小的方向照射
82.CNS11379鑄件射線檢驗法對鑄件瑕疵是怎樣分類的？答：分為五種：第一種是氣孔﹔第二種是夾渣﹔第三種是縮孔﹔第四種是裂縫﹔第五種是嵌入物。
83.CNS11379鑄件射線檢驗法對鑄件的第一、二種瑕疵按點數評定時，其判定區范圍是如何規定的？答：以瑕疵最嚴重處為判定區，其范圍以檢測厚度為准：檢測厚度在10mm以下時，判定區范圍是30x30mm﹔檢測厚度超過10mm至25mm時，判定區范圍是50x50mm﹔檢測厚度超過25mm至80mm時，判定區范圍是70x70mm﹔檢測厚度超過80mm時，判定區范圍是100x100mm
84.按CNS11379鑄件射線檢驗法，對于第三種瑕疵，即縮孔，在何種情況下可視為無關顯示？答：單獨的線狀縮孔長度為5mm以下可視為無關顯示不予計算
85.按ROCSNT-PQ-01非破壞檢測從業人員合格基准的規定，報考高級檢驗師的條件有哪些？答：大學（院）理工科系畢業持有中級資格証明一年（液滲、磁粒兩類檢測）或一年半（渦電流、射線、超音波、泄漏四類檢測）以上經歷﹔專科理工科以上畢業持有中級資格証明2年（液滲、磁粒兩類檢測）或2年半（渦電流、射線、超音波、泄漏四類檢測）以上經歷﹔持有中級資格証明且有四年以上經驗
86.按ROCSNT-PQ-01非破壞檢測從業人員合格基准，各級非破壞檢測考試的合格標准是怎樣規定的？答：中、初級人員每科（普通、專業、實作）成績至少70分，而三科平均需達80分為合格﹔高級人員每科（普通、專業、實作）成績至少80分，而三科平均需達90分為合格
87.右圖為某合金鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：氣體保護焊-鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：橫裂紋
88.右圖為某鈦合金板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：鎢極氬弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：夾鎢
89.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：密集氣孔
90.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：局部夾渣

　
91.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：未焊透（熔入不足）

　
92.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：線狀夾渣

　
93.右圖為某厚度14mm低合金鋼板對接焊縫，X型坡口，焊接方式：自動焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：縱向裂縫

　
94.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：樹枝狀偽缺陷

　
95.右圖為某鋼板對接焊縫，V型坡口，焊接方式：手工電弧焊，判斷影像中缺陷的性質。

答：蜘蛛狀偽缺陷

　
96.什么是偽缺陷？簡述底片上偽缺陷的來源。[提示]：由于膠片本身質量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨別的影像，但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像，稱之為偽缺陷。偽缺陷的來源包括機械損傷或表面附著物形成（如指紋、折痕、划傷、水印等），或者是由化學作用形成（如漏光、感光、藥物玷污等），大致上可以分為來源于膠片本身的制造質量與儲運、保管，來源于增感屏制造質量及損傷導致的增感不均勻或受過可見光線照射過的熒光增感屏的受激熒光影響等，來源于膠片裁切、包裝、照相及沖洗過程中的漏光、手印、靜電、划傷或局部折傷等﹔來源于暗室處理中的玷污、處理不均勻、水跡、指紋、氣泡、藥水老化失效、操作程序不當等等
97.什么是“照相灰霧（Photo graphic fog）”和“曝光灰霧（exposure fog）”？[提示]：照相灰霧是由于乳劑和沖洗條件造成的灰霧，即是膠片固有灰霧與顯影時的化學灰霧的總和﹔曝光灰霧則是由于膠片受到不需要的電離輻射或可見光波的曝光而造成的灰霧
98.什么是影響射線照相影象質量的三要素？答：影響射線照相影像質量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為底片影像中相鄰區域的黑度差。射線照相清晰度定義為底片影像中不同黑度區域間分界線的寬度。用來定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射線照相顆粒度定義為對視覺產生影響的底片影像黑度的不均勻程度。
99.什么叫主因對比度？什么叫膠片對比度？它們與射線照相對比度的關系如何？答：由于不同區域射線強度存在差異所產生的對比度稱為主因對比度，其數學表達式為：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透過試件到達膠片的射線強度﹔△I--局部區域射線強度增量﹔μ--射線的吸收系數﹔△T--局部區域的透射厚度差﹔n--散射比。由上式可以看出，主因對比度取決于透照厚度差、射線的質以及散射比。膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數定量表示，數學式為：γ'=△D/△lgE,式中γ'--膠片平均反差系數﹔△D--底片對比度﹔△lgE--曝光量對數值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型，底片黑度，顯影條件和增感方式。射線照相底片對比度是主因對比度和膠片對比度的綜合結果，主因對比度是構成底片對比度的根本因素，膠片對比度可以看作是主因對比度的放大系數。
100.就象質計金屬絲底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高底片對比度可能會帶來什么缺點？答：象質計金屬絲底片對比度公式△D= -0.434μpγσ﹒d/(1+n),提高對比度主要途徑及由此帶來的缺點：(1)增大μp值。在保証穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，得這樣會使曝光時間增加。(2)增大γ值。可選用γ值更高的微粒膠片﹔由于非增感型片膠片γ值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間，提高黑度也需要增加曝光時間，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度△Dmin，對靈敏度產生不利影響。(3)提高σ值，可選擇焦點尺寸小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光時間延長。(4)減少n值。要減小散射線，就要使用鉛窗口和鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時間延長。