非破壞檢測人員技朮資格等級考試-RT中級專業科目

問答題
1.對探傷中的γ射線源有哪些要求？答（1）能幅射出能量符合需要的γ射線。（2）有足夠長的半衰期，能保証一定的使用時間。（3）有足夠大的放射強度，以保証實際使用中曝光時間不致過長。（4）比活度高，射源尺寸小。（5）易于制造，成本低。（6）容易貯存，安裝，不易造成污染。
2.金屬陶瓷Χ射線管有哪些優點？答：（1）用鋼殼取代玻璃殼，因此抗震性強不易破碎。（2）金屬外殼接地，管壁不會聚集電荷，工作穩定。（3）真空度高，用金屬和陶瓷取代玻璃后，排氣溫度可從400℃提高到800℃，真空度大大提高，從而電性能好，使用壽命長。（4）體積小，重量輕。由于陶瓷電絕緣強度比玻璃高得多，用陶瓷代替玻璃作陰極和陽極的絕緣體后，體積和重量均大幅度減小。
3.Χ射線管的陽極冷卻方式有几種？冷卻有什么重要性？答：Χ射線管的冷卻方式有輻射散熱，充油（水）冷卻以及旋轉陽極自然冷卻三種。Χ射線管如不及時冷卻，陽極過熱會排出氣體，降低管子的真空度，嚴重時可將靶面熔化，龜裂脫落，使整個管子喪失工作能力。
4.試述Χ射線機訓練的目的和原理 答：新的或長期不用的Χ射線機使用前必須進行訓練，其目的是為了提高Χ射線管真空度，保証儀器工作穩定。Χ射線管工作時，陽極受到電子轟擊溫度升高，會排出氣體，降低管內真空度。同時管內殘余氣體電離后，其質量較大的正離子會高速沖向陰極，使陽極金屬和鎢絲濺散，這些濺散金屬能吸收氣體，提高管內真空度。訓練時管電壓和管電流逐步增加，可以保証吸收氣體過程始終占優勢，吸收氣體量大于排出氣體量，從而提高Χ射線管的真空度。
5.Χ射線機高壓發生線路有几類？它們在Χ射線輸出上有何區別？答：按輸出的高壓波型，高壓發生線路可分為三類:(1)半波整流線路﹔(2)全波整流線路﹔(3)全波恆直流線路。在相同電壓下，不同線路的Χ射線輸出是不同的，全波恆直流線路輸出的射線強度最大，有效能量最高，全波整流線路次之，半波整流線路輸出的射線強度最低。
6.試述工業Χ射線膠片的特點和結構。答：與其他膠片相比，工業射線膠片的特點是雙面涂膜，乳劑層厚，梯度高，黑度大，其乳劑層厚度達數十微米，反差系數高達3.5以上，最大黑度一般超過4。工業射線膠片一般用聚脂纖維做片基，雙面涂有藥膜，藥膜共有三層：即：結合層，感光乳劑層，保護層。
7.逆電壓對X射線管工作有什么危害？答：半波自整流工作的X射線管，管電壓不工作的半周的峰值，比工作半周的還要高。如陽極過熱也能發射電子，產生管電流反跳現象，對其它高壓元件增加了擊穿的機會。所以工作中要多注意,避免整流元件的損壞。
8.X射線管真空度不夠時有何現象？答：X射線真空度不夠高時，通高電壓后，通過儀器的mA表、Kv表將電流、電壓上升到一定值時，指針式mA表的指針會產生抖動現象。
9.說明一般常用的高壓電纜的結構。答：1、電纜芯線﹔2、主絕緣層﹔3、半導體層﹔4、金屬網防護層﹔6、橡膠（或紗織）保護層。
10.油冷式X射線機高壓部份包括哪些元件？答：1、X射線管﹔2、高壓發生器﹔3、燈絲加熱變壓器﹔4、高壓整流器﹔5、高壓電容器﹔6、高壓電纜﹔7、冷卻絕緣攪拌油泵等。
11.高壓升不上和高壓跳閘是不是一回事？答：不是一回事。高壓升不上是高壓接觸器線圈不動作，指示紅燈不亮。高壓跳閘是因某部分被擊穿，高壓回路超載，被保護繼電器瞬間切斷高壓。指示紅燈閃亮几下后熄滅。
12.當油冷式X射線機機頭內有氣泡和缺油時會發生什么現象？答：機頭內有氣泡時，送高壓后，mA表針不規律的抖動或劇烈擺一下后，高壓自動切斷。
13.X射線管或整流管燈絲斷時有何現象？答：X射線管或整流管燈絲斷時現象相同，加熱后管子不亮，送高壓后，mA表無讀數。
14.計時器的表針，送高壓后可不可以再調？為什么？答：送高壓后絕對不能再調表針，因為此時表內齒輪已經挂上擋，再調表針可使齒輪脫軸，損壞計時器。
15.保護部分有哪些元件，都在什么位置？答：1、保護繼電器：在控制台內，它的線圈與高壓回路串聯﹔2、零位接觸器：在自耦變壓器零位處﹔3、時鐘零位觸點，在計時器內部
16.什么是影響射線照相影象質量的三要素？答：影響射線照相影像質量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為底片影像中相鄰區域的黑度差。射線照相清晰度定義為底片影像中不同黑度區域間分界線的寬度。用來定量描述清晰度的量是“不清晰度”。射線照相顆粒度定義為對視覺產生影響的底片影像黑度的不均勻程度。
17.什么叫主因對比度？什么叫膠片對比度？它們與射線照相對比度的關系如何？答：由于不同區域射線強度存在差異所產生的對比度稱為主因對比度，其數學表達式為：△I/Ip=(μ△T)/(1+n),式中：Ip--透過試件到達膠片的射線強度﹔△I--局部區域射線強度增量﹔μ--射線的吸收系數﹔△T--局部區域的透射厚度差﹔n--散射比。由上式可以看出，主因對比度取決于透照厚度差、射線的質以及散射比。膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數定量表示，數學式為：γ'=△D/△lgE,式中γ'--膠片平均反差系數﹔△D--底片對比度﹔△lgE--曝光量對數值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型，底片黑度，顯影條件和增感方式。射線照相底片對比度是主因對比度和膠片對比度的綜合結果，主因對比度是構成底片對比度的根本因素，膠片對比度可以看作是主因對比度的放大系數。
18.就象質計金屬絲底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高底片對比度可能會帶來什么缺點？答：象質計金屬絲底片對比度公式△D= -0.434μpγσ·d/(1+n),提高對比度主要途徑及由此帶來的缺點：(1)增大μp值。在保証穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，得這樣會使曝光時間增加。(2)增大γ值。可選用γ值更高的微粒膠片﹔由于非增感型片膠片γ值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間，提高黑度也需要增加曝光時間，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度△Dmin，對靈敏度產生不利影響。(3)提高σ值，可選擇焦點尺寸小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光時間延長。(4)減少n值。要減小散射線，就要使用鉛窗口和鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時間延長。
19.何謂固有不清晰度？答：當射線穿過膠片時，會乳劑層中激發出自由電子，這些電子具有一定動能，會向各個方向飛散，并能使途經的鹵化銀晶體感光，其結果是使得試件及缺陷在底片上的影像產生一個黑度過渡區，造成影像模糊，這個過渡區稱為固有不清晰度Ui
20.什么叫最小可見對比度？影響最小可見對比度的因素有哪些？答：在射線底片上能夠辨認某一尺寸缺陷的最小黑度差稱為最小可見度，又稱識別界限對比度，當射線底片對比度△D大于識別界限對比度△Dmin時，缺陷就能識別，反之則不能識別。最小可見對比度△Dmin與影像大小和黑度分布，底片顆粒度，黑度，觀片條件以及人為差異等因素有關。
21.為什么射線探傷標准要規定底片黑度上下限？答：探傷標准中規定底片黑度上下限是為了保証底片具有較高的對比度沒D和較小的識別界限對比度△Dmin，從而得到較高的靈敏度。非增感型膠片γ值隨黑度的增加而增大，△D增大，γ也會增大，因此，底片取較大的黑度可獲得較高的對比度△D，另一方面，△Dmin在低黑度范圍內大致不變，在高黑度范圍內隨黑度的增加而增大，為得到較小的識別界限對比度△Dmin，又要控制底片黑度不能過大，綜合以上關系，當黑度D過大或過小，都使使△Dmin>△D，使透度計影像不能識別，從而降低探傷靈敏度。此外，底片黑度的上限值還受到觀片燈亮度的影響，當透過底片光亮度超過100cd/m2時，人眼的識別缺陷能力最強，透過光亮度低于30cd/m2時，識別能力顯著下降，為保証足夠的透過光強，受觀片燈亮度限制，也必須規定底片黑度上限。
22.何謂曝光因子？何謂平方反比定律？答：曝光因子是一個用來確定曝光參數的物理量，其形式為： 射線曝光因子=[管電流]×[時間]/[距離]2=mA·min/cm2,
γ射線曝光因子=[射源強度]×[時間]/[距離]2=ci·min/cm2, 對同一台Χ射線機或同一個放射同位素來說，只要曝光因子值不變，照相的曝光量也就不變，攝得底片黑度必然相同。因此，對射線強度、時間和距離三個參數，如果實際透照時需要改變一個或兩個參數，便可用曝光因子計算其他參數，從而保証照相曝光量不變。平方反比定律是指射線強度與距離的平方成反比的規律，其數學式為I2/I1=（F1/F2）2,其原理是：近似認為射源是一個點，在其照射方向上的任意立體角內取任意垂直截面，單位時間內通過的光量子總數是不變的，但是由于截面積與到射源的距離的平方成正比，所以單位面積的光量子密度，即射線強度與距離的平方成反比。
23.焊縫余高（焊冠）對X射線照相質量有什么影響？答：大多數焊縫在射線照相時都保留著焊縫余高，由于余高的存在，透過母材部分的射線要比透過焊縫部分的射線強得多，而且照射母材部分的Χ射線產生的散射線要比照射焊縫部分的Χ射線產生的散射線強得多，這樣，來自母材部分的散射線會與透過焊縫部分的Χ射線所產生的散射線疊加在一起，使焊縫部分的散射比增大，使照相質量降低。散射比與焊縫余高的變化關系是：余高高度越大，焊縫中的散射比越大﹔余高寬度越窄，焊縫中的散射比越大。
24.透照余高（焊冠）磨平的焊縫怎樣提高底片靈敏度？答：對余高磨平的焊縫透照提高靈敏度的要點是盡量提高底片對比度和控制底片黑度。提高對比度的途徑包括：(1)選用γ值更高的膠片﹔(2)選用較低能量的射線﹔(3)采用反差更高的顯影配方﹔(4)進一步減小散射線。底片黑度同時影響底片對比度和最小可見對比度。試驗証明，當黑度約為2.5時可識別的透度計線徑最小，稱為余高磨平焊縫透照的最佳黑度。因此，對余高磨平的焊縫最好選擇黑度約為2.5的透照參數。
25.試述散射線的實際來源和分類答：受射線照射的各種物體都會成為散射源，但強度最大，對探傷質量影響最大的散射源是試件本身。散射線一般按散射方向分類，來自膠片暗盒正面（射源方向）的散射稱作“前散射”或“正向散射”，來自膠片暗盒后面的散射稱作“背散射”
26.常用控制散射線的方法有哪些？答：(1)使用鉛箔增感屏，吸收部分前散射和背散射線。(2)暗盒后襯鉛板，進一步減少背散射。(3)使用鉛罩和鉛光闌，限制照射范圍，減少散射源。(4)采用鉛遮板或鋇泥屏蔽試件邊緣，減少“邊蝕”效應。(5)用流質吸收劑或金屬粉未對形狀不規則及厚度差較大的試件進行厚度補償，以減少較薄部分散射線對較厚部分的影響。(6)采用濾板濾去射線中線質較軟的部分，減少“邊蝕”效應。(7)減少或去除焊縫余高，降低焊縫部位散射比。
27.為什么說像質計靈敏度不能等于缺陷靈敏度？答：像質計靈敏度是比較射線照相技朮質量的一種手段。一般說來，像質計靈敏度越高，發現缺陷的能力越強，但像質計靈敏度和缺陷探測驗靈敏度之間不能划等號，后者的情況要復雜得多，是缺陷自身几何形狀、吸收系數、位置及取向角度的復合函數。雖然人們設計了各種型式的像質計，但到目前為止，還沒有一種完美的像質計，能恰當反映出射線照相技朮對各種自然缺陷的探測能力。
28.在底片黑度，象質計靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會漏檢？答：(1)小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對比度小于最小可見對比度，便不能識別。因此對一定的透照條件，存在著一個可檢出缺陷臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出。例如小氣孔夾渣、微裂紋、白點等。(2)與照射方向不平行的平面型缺陷,平面型缺陷具有方向性,當缺陷平面與射線之間夾角過大,會使對比度降低,影像畸變,甚至在底片上不產生影像,從而造成漏檢,例如坡口未熔合,層間未熔合,鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當,θ角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況.(3)閉合緊密的缺陷,對某些緊閉缺陷,既是透照角度在允許范圍內,仍不能產生足夠的透照厚度差,從而造成漏檢,例如緊閉的裂紋,未熔合,鍛件中的折疊等.
29.從提高探傷質量的角度比較各種透照方式的優劣 答：從提高像質計靈敏度，減小透照比K和橫向裂紋檢出角θ以及保証一次透照長度L3等方面評價，几種透照方法優劣比較如下：單壁透照優于雙壁透照﹔雙壁單影優于雙壁雙影﹔環縫單壁透照時，源在內中心法優于源在內偏心法，源在內優于源在外。
30.X射線線質的選擇需要考慮哪些因素？答：(1)適用的射線能量范圍主要根據試件的材質厚度確定，以保証能穿透試件為射線能量的下限，以保証足夠的靈敏度為射線能量的上限。(2)具體管電壓數值主要根據底片對比度要求而確定，當被檢區域厚度變化較小時，需增大對比度，應采用較低管電壓，當被檢區域厚度變化較大時需適當減小對比度，應采用較高管電壓。(3)射線能量不僅影響底片對比度，而且影響固有不清晰度和散射比，這些都應在選擇射線能量時加以考慮。
31.選擇透照焦距時應考慮哪些因素？答：(1)焦距的選擇應滿足几何不清晰度的要求。(2)焦距的選擇還應保証在滿足透照厚度比K的條件下，有足夠大的一次透照長度L3,(3)為減少因照射場內射線強度不均勻對照相質量的影響，焦距取大一些為好。(4)由于射線強度與距離平方成反比，焦距的增加必然使曝光時間大大延長，因此焦距也不能過大。

32.曝光條件主要包括哪些內容？答：對X射線照相來說,X光機一定,曝光條件包括管電壓,管電流,曝光時間和焦距。對γ射線照相來說,γ源一定,曝光條件包括曝光時間和焦距
33.影響射線照相靈敏度的主要因素有哪些？答：影響射線照相靈敏度的主要因素有:ヾX光機的焦點大小﹔ゝ透照參數選擇的合理性，透照參數主要有管電壓、管電流、曝光時間和焦距大小﹔ゞ增感方式﹔々選用膠片的合理性﹔ぁ暗室處理條件﹔あ散射線的遮擋等
34.解釋高電壓照相為何降低照相靈敏度？答：KV上升﹔E=hc/γ上升﹔γ=12.395/V減少﹔μ=kγ3z4減小﹔I2/I1=e-μx下降。千伏值高，光電子的能量強，電子速度加快，波長短，吸收系數減小，透過有缺陷部位與無缺陷部位的射線強度差值減小，底片的反差減小，靈敏度降低
35.射線照相靈敏度如何測量。常用于測量靈敏度的工具有那些？答：照相靈敏度一般是采用透度計的方法來確定，我國常用于測量靈敏度的工具有槽狀透度計和金屬絲透度計
36.線型透度計如何放置？答：位于射線源一側的工件表面上，且接近焊縫被檢區端部，線絲橫跨且垂直于焊縫，細絲向底片端部一側
37.階梯型透度計如何放置？答：放在射線源一側的工件表面上，且接近焊縫被檢區端部的母材上，（距焊縫邊緣至少5mm）并平行于焊縫，薄階梯朝外
38.為什么透度計一定要放在靠射線源側的工作表面上？當不能放在射線源側時應如何處理？答：透度計放在射源側可以反映透照真實靈敏度。這是因為越靠近膠片半影就越小，成像清楚。如果放在上面能顯示出來。說明靠近工件上表面相應大小的缺陷也能顯示出來。反之，透度計靠近膠片。雖然在底片透度計鋼絲被顯示出來了，但不能說在工件中相應大小的缺陷都能反映出來。所以透度計應放在射源側的工作表面上。如果無法擺放則要做對比試驗。找出與放在射源側的靈敏度關系以后方可選用。
39.什么是照相底片黑度？答：透過底片以后的光強與入射到底片光強的比稱為透過率。用透過率倒數的常用對數來表示底片上各點黑化的程度、稱為底片黑度。用D表示。D=lg(I0/I)﹔（I0為入射光強，I為透射光強）
40.什么叫底片的反差(對比度)？答：底片上相鄰兩區域之間黑度的差異。
41.什么是底片黑度?答:底片黑度就是底片的不透明程度,定義為:以常用對數表示的入射光通量與透射光通量的比值,稱為底片的黑度值,即D=lg(φ0/φt)
42.什么叫底片的清晰度？答：底片上影像輪廓的清晰程度,或者說:定性地表示底片或熒光屏圖像細節清晰的程度
43.什么叫几何不清晰度？几何不清晰度對射線探傷的主要危害有哪些？答：由于任何射線源（X光源焦點或γ射線源）都不是一點，總有一定大小。這樣在工件或焊縫進行透照時，缺陷在底片上的影象邊緣部分，就會有半影出現。最大半影值定義為几何不清晰度。几何不清晰度過大將會障礙對缺陷的觀察，影響底片靈敏度。
44.散亂射線的產生及對底片的影響是什么？答：X射線穿透被檢工件時，工件會產生二次X射線或電子等散亂射線，這些散亂射線來自底片前面。當X射線透過工件、膠片后打在地面上，牆壁上等都會產生亂反射。這是來自膠片后面的散亂射線。這些散亂射線將影響底片質量，使底片灰霧度增大甚至完全模糊。
45.常用的遮擋散亂射線的主要方法有哪些？答：ぇ采用鉛窗口,減少透照場范圍,使其盡量只照射在被透照部位上,從而減少亂反射的產生。え用鉛板遮擋膠片不需照相部位,減少膠片接收散亂射線。ぉ用鉛箔增感,因為鉛箔可以吸收一部分散亂射線。お膠片背向射源的一方用鉛板擋散亂線
46.射線能量的選擇應考慮的基本條件是什么？答：根據被照工件厚度，在射線能穿透工件的前提下，盡量采用較低管電壓，同時亦要考慮曝光時間，工作效率及X光機的利用率等各方面因素，以得到較高靈敏度的底片。
47.應如何選擇射線照相時的焦點與焦距？答：為了獲得高清晰度的底片,應盡量選擇小焦點、大焦距。但焦距不應過大,焦點、焦距能滿足几何不清晰度Ug的要求即可
48.應如何選擇增感屏？答：ぇ照相質量要求高時，采用金屬增感屏。え高能射線照相、γ射線照相只能用金屬增感屏。ぉ當靈敏度可保証時，為了提高生產效率，可以采用熒光增感屏
49.使用熒光增感屏應注意哪些問題？答：ぇ屏的厚度和粒度。え屏的表面無污染損傷。ぉ避免熒光屏的余輝感光
50.就射線與膠片的相對位置而論，射線照相分為哪几種形式？答：ぇ源在外，膠片在內﹔え源在內，膠片在外﹔ぉ源與膠片均在外 雙壁雙投影﹔お源與膠片均在外 雙壁單投影
51.影響顯影的主要因素有哪些？答：ぇ顯影時間﹔え顯影液的溫度﹔ぉ顯影時顯影液的搖動﹔お配方類型﹔か老化程度
52.顯影溫度一般應控制在什么范圍？答：一般應控制在18∼20℃之間為宜
53.底片水洗的目的是什么？答：把海波和其它反應物從底片上沖洗掉，使影象可以保存得較久
54.保存膠片的注意事項是什么？答：ぇ環境溫度為17±3℃，干燥通風，避光。え遠離熱源、射線源﹔ぉ防止與有害氣體接觸，如硫化氫、氨氣等。お不能受壓、要立放﹔か膠片是易燃物，要注意防火
55.膠片的沖洗程序如何？答：ぇ顯影﹔え停影﹔ぉ定影﹔お水洗﹔か干燥
52.裝切膠片時要注意的事項有哪些？答：ぇ拿取膠片時，要沿膠片邊或角拿取，不能直接接觸乳劑面，以免留下指印﹔え從暗盒中取片時，要避免軟片與增感屏或襯紙磨擦，否則會產生靜電使膠片感光，更不能將膠片與粗糙物磨擦以免產生划傷或壓力感光﹔ぉ膠片不能折疊或彎曲，否則會產生折痕或使膠片感光﹔お安全燈不能太亮，以免造成膠片感光。
56.射線底片的評定對底片質量有哪些基本要求？答：ぇ被檢區的黑度適當，符合有關標准要求，影像清晰，反差適中，透度計靈敏度≦2%﹔え一切標記齊全，擺放正確﹔ぉ被檢區無影響評定的偽缺陷以及表面嚴重的不規則影像。
57.底片上常見偽缺陷產生的原因是什么？答：(1)暗盒漏光﹔(2)膠片受壓、受折﹔(3)沖洗不干淨﹔(4)天氣干燥、膠片間相互摩擦﹔(5)膠片受潮﹔(6)增感屏有污垢，剝落或起了化學作用﹔(7)因手不潔﹔(8)顯影時膠片表面附有小氣泡﹔(9)膠片在未顯影前，沾上了定影液或顯影液﹔(10)膠片在顯影時搖動不勻﹔(11)工件表面凹凸不平﹔(12)熒光增感屏的熒光余輝未消除就裝入膠片等。
58.射線照相對焊縫的表面要求是什么？答：表面上的不規則程度不應妨礙底片上焊縫內部缺陷影像的辯認。
59.焊縫射線照相的定位標記如何擺放？答：定位標記一般用鉛箭頭。豎箭頭垂直指向焊縫且與中心標記對齊，橫箭頭由小號指向大號且平行于焊縫。
60.源在外，膠片在內透照園筒形環焊縫時，如何計算照相靈敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是從底片上被檢區觀察到的透度計最細徑（或孔徑）。X是射線在透度計位置穿透工件的厚度。
61.雙壁雙投影透照管子環焊縫時，如何計算照相靈敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是從底片上被檢區觀察到的透度計的最細徑（或孔徑）。X=x'+δ，即上焊縫穿透厚度與下半部母材厚度之和。
62.雙壁單投影透照園筒形環焊縫時，如何計算照相靈敏度？答：K=ΔX/X×100%,ΔX是從底片上被檢區觀察到的透度計的最細徑（或孔徑）。X是下半部被檢區透度計所在部位的焊縫厚度。注：采用此法時，無法將透度計置于內環焊縫相應處。在這種情況下要用一個短的管件將透度計置于下半部焊縫的內表面相應位置，作對比試驗，確定出相應的ΔX值。
63.試述評片步驟？答：ぇ按規定標准，檢查底片標記是否符合標准要求。え核對底片黑度和靈敏度是否達到標准要求。ぉ測定缺陷長度，點狀缺陷的換算，按標准評定出底片級別，并做記錄。お發出報告等。
64.射線透照的四要素是什么?答:射線能量的選擇,曝光量的選取,焦距的選用和散射線的預防
65.選擇焦距時應考慮哪几個因素?答:几何不清晰度,曝光量,工作效率,X射線機的連續使用時間
66.什么是几何不清晰度？它的危害是什么？答：由焦點的几何尺寸所造成的影像邊緣模糊區域（或半影），稱為几何不清晰度，它降低底片的清晰度，從而降低射線檢驗靈敏度
67.寫出計算几何不清晰度和求最小焦距的計算公式，并注明各符號的意義。答：Ug=(d/f)δ 或 Ug=dδ/(F-δ),Fmin=(dδ/Ug)+δ,式中：Ug-几何不清晰度，d-焦點尺寸，δ-工件厚度，f-焦點至工件表面最近距離，F-焦距
68.曝光曲線的用途和種類有哪些？答：曝光曲線用于選擇曝光參數，以提高工效，保証射線透照質量。曝光曲線主要分為兩種：曝光量和管電壓隨材料厚度變化的曝光曲線，以及管電壓隨材料厚度變化的曝光曲線
69.對底片質量有哪些要求？答：(1)底片上透照部位完整、標記齊全﹔(2)底片靈敏度符合要求﹔(3)底片黑度符合要求﹔(4)底片上不應有偽缺陷
70.試述射線探傷工藝應包含的內容？[提示]由應試者根據經驗和標准規范回答發揮
71.X射線照相的曝光條件主要包括哪些內容？答：對一定機器產生的X射線而言，曝光條件包括管電壓、管電流、曝光時間和焦距。
72.伽瑪射線照相的曝光條件主要包括哪些內容？答：對射源一定的伽瑪射線而言，曝光條件包括曝光時間和焦距
73.在板厚為30mm的焊縫底片上發現有一個長度為21mm的條狀夾渣，按CNS11226碳鋼焊件射線檢驗法，該焊縫的質量應評為几級？說明該級別評定的依據。答：按9.1條文規定，該缺陷屬于第二類，按9.2.2(1)規定的長度系數為1，按10.2.2表12規定，因為焊縫厚度在“超過12至48”，該缺陷長度已超過母材厚度1/2，因此該焊縫屬于四級
74.在射線照相時，透度計的擺放原則是什么？為什么要這樣擺放？答：透度計應擺放在射線透照區內顯示靈敏度最差的部位，例如線條型透度計，應放置在射源側有效照相范圍內的焊縫的一端，金屬絲垂直于焊縫并跨過焊縫，細線靠外側。在這種情況下，金屬絲顯示的半影最大，失真最大，靈敏度最低，如果在此位置的透度計顯示靈敏度能達到要求，則可以認為透照區內所有部位都能達到靈敏度要求
75.IA/IC=eμx是什么公式？答：是表示工件對比度（也稱主因襯度或射線透照襯度）的公式
76.底片水洗的目的是什么？答：底片水洗的目的是為了延長影像的保存時間
77.射線防護的基本原則是什么？答：采取一些適當措施，把射線工作人員以及周圍其它工作人中所受的射線劑量降低到最高允許劑量（也叫安全劑量）以下，確保人身安全。
78.射線防護的基本方法有那些？答：用一定厚度的物質屏蔽﹔縮短工作時間，增加人與射線源之間的距離。（簡言之，屏蔽防護﹔時間防護，距離防護）。
79.鋼質對接焊縫X光片上常見的焊接缺陷有哪些？在底片上呈什么形狀？答：氣孔，夾渣，未焊透，裂紋，未熔合，咬邊，弧坑，焊瘤以及燒穿等,氣孔在底片上的景象呈現黑色小斑點，外形較規則，一般是園形或橢園形，中間黑而邊緣淺，分布情況不一，有單個、密集或鏈狀的。未焊透或者未熔合在底片上呈現規則的黑色線條。夾渣在底片上呈現不規則外形的點狀，塊狀或條狀。裂紡呈黑色細紋、輪廓分明，端頭細，中間稍粗，微微有些彎曲。
80.試述金屬箔增感屏的原理？答：金屬箔增感作用主要是射線投射到箔上能激發光電子、康氏電子和某些金屬標識X射線。這些射線強度比起鎢酸鈣所發的熒光強度來說是小的，同時還會被金屬箔本身吸收一部分，所以它的增感因數較小。同時在軟射線透照時，增感箔中被激發出來的光電子速度很慢，只有很少一部分達到膠片的乳膠上，以及增感箔本身吸收作用等原因，致使軟片的一次射線的強度衰減很大，實際上不能縮短曝光時間。因此只有用較硬射線透照時增感因數才明顯增大。綜上所述，在用金屬箔增感時，雖然增感因數較低，但能得到較清晰的底片。
81.什么叫射線檢驗靈敏度?答:定量地表示射線檢驗工件時發現最小缺陷的能力,稱作射線檢驗靈敏度
82.什么是射線照相靈敏度？答：射線照相靈敏度一般可分為絕對靈敏度和相對靈敏度。絕對靈敏度是指在底片上能發現工件中沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸。相對靈敏度是將缺陷的尺寸用占被透工件厚度的百分比來表示
83.場所輻射監測和個人劑量監測的目的是什么？答：場所幅射監測是一種預防性測量，通過測量工作場所和環境的照射率或劑量率，可以先估計出處于該場所的人員在特定時間內將要受到的照射量和吸收劑量，從而能告誡有關人員盡可能避開危險區域，指出允許工作時間，并對改善防護條件提供有價值的資料。個人劑量監測是一種控制性測量，通過測量被射線照射人的局部或整體的累積量，從而告訴工作人員到某一時刻以前所受到的照射量或吸收劑量，注意控制以后的照射量。如果被照射人受到超劑量照射，個人劑量監測不僅有助于分析超劑量的原因，還可以為射線病的治療提供有價值的數據。
84.散射線的來源和危害有哪些?答:主要來自被檢工件內部,周圍物體的側面散射和底片的背面散射,散射線降低底片的清晰度和對比度,從而降低射線檢驗靈敏度
85.在什么情況下才可以使用熒光增感屏?答:只有當產品質量要求不高,或者射線檢驗設備能力不足,以及買方同意時方可使用熒光增感屏
86.X射線機采用全波整流電路的優點是什么?答:X射線管不受逆電壓的影響,高壓電纜免受交變電壓的作用,X射線管工作效率高
87.移動式X射線機是由哪六部分組成的?答:X射線管防護套,高壓發生器,冷卻系統,高壓電纜,可移動小車或支架,控制台
88.金屬陶瓷X射線管的主要優點是什么?答:結構簡單,抗震性好,體積小,重量輕,靈敏度高,壽命長
89.陽極靶為什么多用鎢制成?答:金屬鎢耐熱(熔點3400℃),原子序數高(z=74),產生射線強度大
90.X射線管的燈絲和凹面陰極體各起什么作用?答:燈絲用于發射電子,凹面陰極體用于聚焦電子和固定燈絲
91.玻璃殼式X射線管是由哪几個基本部分組成?答:由陰極,陽極和玻璃殼等三部分組成,管內抽成高度真空
92.什么是油浸自冷組合式X射線機？它的冷卻是怎樣實現的？答：高壓變壓器和X射線管在同一機頭內部,采用油絕緣,組合在一起的X射線機,它的冷卻是靠機頭內部溫差或用攪拌油泵使油產生對流通過殼體將熱量散發出去。
93.什么是X射線的實際焦點和有效焦點？答：陽極靶面被電子撞擊的部分叫實際焦點。實際焦點在垂直于管軸線方向上的投影叫有效焦點。
94.簡述防止散亂射線的方法。答：ヾ采用鉛窗口，減小透照場范圍，使其盡量只照射在需要透照的部位上，從而減少散亂反射的產生﹔ゝ用鉛板遮擋膠片不需照相的部位，減少膠片接收散亂射線﹔ゞ使用鉛箔增感，因為鉛箔可吸收一部分散亂射線﹔々把鉛板放在膠片背后，用以遮擋膠片背后的散亂射線
95.敘述射線防護三大方法的原理？答：射線防護的三大方法是時間防護，距離防護和屏蔽防護，其原理如下：時間防護的原理是：在幅射場內的人員所受照射的累積劑量與時間成正比，因此，在照射率不變的情況下，縮短照射時間便可減少所接受的劑量，從而達到防護目的。距離防護的原理是：在源幅射強度一定的情況下，劑量率或照射量與離源的距離平方成反比，增大距離便可減少劑量率或照射量，從而達到防護目的。屏蔽防護的原理是：射線包括穿透物質時強度會減弱，在人與幅射源之間設置足夠厚的屏蔽物，便可降低輻射水平，達到防護目的。
96.金屬增感屏的主要優點是什么？答：金屬增感屏不但可以縮短曝光時間，而且可以吸收散射線，采用金屬增感屏透照的底片清晰度高，從而提高了射線檢驗靈敏度
97.什么是X射線管的特性?答:這是指X射線管的陽極特性,即在某一固定的燈絲加熱電流下,X射線管的管電流與管電壓之間的關系
98.什么叫“非破壞檢測”？非破壞檢測的目的是什么？常用的非破壞檢測方法有哪些？答：在不破壞產品的形狀、結構和性能的情況下，為了了解產品及各種結構物材料的質量、狀態、性能及內部結構所進行的各種檢測叫做非破壞檢測﹔非破壞檢測的目的是：改進制造工藝、降低制造成本、提高產品的可靠性、保証設備的安全運行。常用的非破壞檢測方法有：射線檢測（RT）、超音波檢測（UT）、磁粒檢測（MT）、液滲檢測（PT）、渦電流檢測（ET）和目視檢測（VT）。
99.選用射線檢測設備時應考慮哪些主要因素？答：ヾ依據受檢產品的最大厚度，選擇穿透力足夠的射線裝置﹔ゝ焦點尺寸盡可能小，以獲得最佳的清晰影像﹔ゞ操作方便、便于移動和維修、壽命長﹔々價格便宜﹔ぁ現場條件（如水、電及防護等情況）良好
100.當像質計不能放在射源測工件表面上時，可否放在膠片側工件表面？這時應怎樣計算實際透照靈敏度？答：可以，但應通過對比試驗，即截取一個與被檢工件完全相同的短試樣，在被檢部位的內外表面端部各放一個像質計（即對應射源側與膠片側），采用與工件相同的透照條件進行透照，觀察所得到的底片以確定相應的實際透照靈敏度